1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
經濟型數顯電壓降測試儀1.插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降.從而判斷接線口優劣. 2.適用于測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等相關產品
100A實用型直流電壓降測試儀直流恒流源，電流可測試到1000A；數顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等相關產品之電壓降測試.
200A實用型直流電壓降測試儀直流恒流源，電流可測試到1000A；數顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等相關產品之電壓降測試.
300A實用型直流電壓降測試儀直流恒流源，電流可測試到1000A；數顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等相關產品之電壓降測試.
