100A綜合型液晶電壓降測(cè)試儀用于電線束、插接器、開關(guān)觸點(diǎn)、繼電器、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻、溫升、電壓降或負(fù)載測(cè)量，同時(shí)也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.
200A綜合型液晶電壓降測(cè)試儀用于電線束、插接器、開關(guān)觸點(diǎn)、繼電器、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻、溫升、電壓降或負(fù)載測(cè)量，同時(shí)也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.
300A綜合型液晶電壓降測(cè)試儀用于電線束、插接器、開關(guān)觸點(diǎn)、繼電器、汽車開關(guān)等相關(guān)產(chǎn)品之接觸電阻、溫升、電壓降或負(fù)載測(cè)量，同時(shí)也適用于具有類似特性產(chǎn)品使用.
200高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù). 雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測(cè)試方法并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
400高溫四探針雙電組合電阻率測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù). 雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測(cè)試方法并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
