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  • BX-Y1252手持式液晶顯示四探針測試儀
    BX-Y1252手持式液晶顯示四探針測試儀

    手持式液晶顯示四探針測試儀用于導(dǎo)體、半導(dǎo)體、絕緣材料常溫及高溫等環(huán)境下電性能分析.

    時(shí)間:2024-05-15型號(hào):BX-Y1252
  • BX-Y1228半自動(dòng)觸屏四探針測試儀
    BX-Y1228半自動(dòng)觸屏四探針測試儀

    半自動(dòng)觸屏四探針測試儀方法,采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸,減少人為因素對測試結(jié)果的影響;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn);測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測模式或手動(dòng)點(diǎn)測模式,同一位置的重復(fù)測試或多點(diǎn)的面電阻測量,報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析;提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

    時(shí)間:2024-05-15型號(hào):BX-Y1228
  • BX-Y1228A半自動(dòng)四探針觸屏測試儀
    BX-Y1228A半自動(dòng)四探針觸屏測試儀

    半自動(dòng)四探針觸屏測試儀方法,采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸,減少人為因素對測試結(jié)果的影響;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn);測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測模式或手動(dòng)點(diǎn)測模式,同一位置的重復(fù)測試或多點(diǎn)的面電阻測量,報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析;提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

    時(shí)間:2024-05-15型號(hào):BX-Y1228A
  • BX-Y1228B半自動(dòng)四探針觸屏測試儀
    BX-Y1228B半自動(dòng)四探針觸屏測試儀

    半自動(dòng)四探針觸屏測試儀方法,采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸,減少人為因素對測試結(jié)果的影響;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn);測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測模式或手動(dòng)點(diǎn)測模式,同一位置的重復(fù)測試或多點(diǎn)的面電阻測量,報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析;提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.

    時(shí)間:2024-05-15型號(hào):BX-Y1228B
  • BX-Y1220A液晶顯示高阻四探針測試儀
    BX-Y1220A液晶顯示高阻四探針測試儀

    液晶顯示高阻四探針測試儀覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試,硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料,晶圓、太

    時(shí)間:2024-05-15型號(hào):BX-Y1220A
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