電子密度分析天平 密度稱量兩用電子天平 上皿式密度分析天平
型號：HG15-TEP-30
產品介紹：電子密度分析天平TEP-30
系密度稱量兩用電子分析天平，它采用精密電子分析天平利用阿基米德定律，可對任何形狀不規則的固體物質同時進行重量和比重的分析測量，適用于工礦企業，科研機構，大專院校實驗室作質量比重的測量與分析。
技術參數：
電子密度分析天平TEP-30
產品型號 | zui大稱量(g) | 分度值(g) | 稱盤尺寸(mm) | 備 注 |
TEP-500 | 500g | 10mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度稱量兩用 |
TEP-300 | 300g | 1mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度稱量兩用 |
TEP-200 | 200g | 1mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度稱量兩用 |
TEP-30 | 30g/300g | 1mg/10mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度稱量兩用 |
AEL-200A | 200g | 0.1mg | Φ40/Φ90mm | 下皿式、密度稱量兩用
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北京北信未來電子儀器有限公司
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