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原子力顯微鏡  懸臂反射原子力顯微鏡  探針原子力顯微鏡

原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡

簡要描述:原子力顯微鏡(Atomic force microscopy)是一種以物理學原理為基礎,通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描,探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。

產品型號: HG13- NanoFirst-2000

所屬分類:·顯微鏡系列

更新時間:2024-05-23

詳細說明:

原子力顯微鏡  懸臂反射原子力顯微鏡  探針原子力顯微鏡

型號:HG13- NanoFirst-2000

 

產品介紹:

原子力顯微鏡(Atomic force microscopy)是一種以物理學原理為基礎,通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描,探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后發生位移。檢測器接受反射光,zui后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。 
產品特點:
計算機全數字化控制,操作簡捷直觀。 
步進馬達自動進行針尖--樣品逼近,保證實驗圓滿成功。 
深度陡度測量,三維顯示。 
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。 
X、Y二維樣品移動平臺,快速搜索樣品區域. 
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡 
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。 
掃描速度達40000點/秒 
可選配納米刻蝕功能模塊。 
技術指標: 
AFM探頭 
樣品尺寸:直徑小等于30mm;厚度小等于15mm。 
XYzui大掃描范圍:標準6X6微米 
0.25nm 
0.03nm(云母定標) 
XY二維樣品移動范圍:5mm;精度0.5微米 
掃描器、針尖座智能識別 
44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統(選配) 
AFM電化學針尖塊,液電池,液體輕敲式成像功能(選配) 
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(選購)



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