1600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
300KG兩探針自動極片電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；提供數(shù)據和報表生成管理.自動實時樣品厚度數(shù)據及環(huán)境溫濕度采集.
500KG兩探針自動極片電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；提供數(shù)據和報表生成管理.自動實時樣品厚度數(shù)據及環(huán)境溫濕度采集.
1000KG兩探針自動極片電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；提供數(shù)據和報表生成管理.自動實時樣品厚度數(shù)據及環(huán)境溫濕度采集.
300KG自動極片平面探頭電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；提供數(shù)據和報表生成管理.自動實時樣品厚度數(shù)據及環(huán)境溫濕度采集.
